HCMP 多通道介電電阻測(cè)試模塊：材料電學(xué)測(cè)試

傳統(tǒng)材料電學(xué)性能測(cè)試普遍存在單通道測(cè)試慢、切換耗時(shí)、信號(hào)干擾大、人工補(bǔ)償繁瑣等問(wèn)題。華測(cè)儀器HCMP 多通道介電電阻測(cè)試模塊，專(zhuān)為介電常數(shù)、體積電阻、表面電阻等多參數(shù)并行測(cè)試設(shè)計(jì)，普遍應(yīng)用于新材料研發(fā)、新能源、半導(dǎo)體及電子元器件質(zhì)量管控。

模塊采用光耦繼電器，通道切換僅1 毫秒，遠(yuǎn)快于傳統(tǒng)機(jī)械開(kāi)關(guān)；支持10 通道同步并行測(cè)試，可按需定制通道數(shù)。硬件采用低寄生設(shè)計(jì)，絕緣電阻可達(dá)100TΩ，降低信號(hào)干擾，回路電阻僅0.5Ω，通道寄生電容低至0.2pF，減少線(xiàn)纜與夾具帶來(lái)的系統(tǒng)誤差。

同時(shí)支持全通道開(kāi)短路自動(dòng)補(bǔ)償，保證測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確一致；可靈活兼容多種測(cè)試儀器，適配多樣測(cè)試環(huán)境。搭配HuacePro 測(cè)試軟件，實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)循環(huán)掃描、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)對(duì)比、本地存儲(chǔ)等功能，縮短測(cè)試周期，優(yōu)化研發(fā)與質(zhì)控效率。

華測(cè)儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺(tái)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)到整體實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，華測(cè)儀器可提供從方案設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務(wù)。