從1mHz到10kHz，高電場(chǎng)介電損耗與漏電流準(zhǔn)確測(cè)量

在高電場(chǎng)作用下，材料介電極化行為、介質(zhì)損耗特性及微弱漏電流易受場(chǎng)強(qiáng)、頻率、溫度及外界電磁干擾影響，導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)漂移、重復(fù)性差、真實(shí)性能難以準(zhǔn)確表征。如何在復(fù)雜工況下實(shí)現(xiàn)測(cè)得準(zhǔn)、測(cè)得穩(wěn)、測(cè)得全，是介電材料、絕緣材料、功能陶瓷及電子器件研發(fā)與質(zhì)控的關(guān)鍵痛點(diǎn)。

華測(cè)儀器高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng)，是為強(qiáng)場(chǎng)電性能準(zhǔn)確表征而設(shè)計(jì)。整機(jī)采用全集成一體式硬件架構(gòu)，將 FPGA 高速主控、高準(zhǔn)度高壓放大模塊與高性能鎖相檢測(cè)單元協(xié)同工作，從信號(hào)發(fā)生、高壓輸出到微弱電流采集全程閉環(huán)控制，大幅優(yōu)化系統(tǒng)穩(wěn)定性與信噪比。

系統(tǒng)搭載AC DFR 介電頻率響應(yīng)技術(shù)，直接原位測(cè)量材料介電頻譜特性，摒棄傳統(tǒng)間接換算帶來(lái)的誤差累積，具備強(qiáng)抗干擾能力，即便在高電場(chǎng)、高噪聲工業(yè)與科研環(huán)境中，仍能確保測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠、長(zhǎng)期穩(wěn)定。

頻率覆蓋1mHz 至 10kHz寬頻域，輸出電壓0～500V連續(xù)可調(diào)，高壓響應(yīng)速度可達(dá)150V/μs，可跟隨動(dòng)態(tài)波形，滿足強(qiáng)場(chǎng)、瞬態(tài)電場(chǎng)下的材料性能測(cè)試需求。電流檢測(cè)靈敏度可至2×10^-13A，阻抗測(cè)量上限可達(dá)10^15Ω，準(zhǔn)確捕捉極小漏電流與高絕緣材料的微弱電信號(hào)。

搭配環(huán)境箱與液氮控溫模塊，實(shí)現(xiàn)-80℃至 230℃寬溫區(qū)連續(xù)變溫測(cè)試，真實(shí)還原材料在復(fù)雜溫度與強(qiáng)電場(chǎng)耦合環(huán)境下的服役行為。系統(tǒng)支持同步采集介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、漏電流、阻抗、電導(dǎo)率等全維度參數(shù)，無(wú)需多次切換測(cè)試設(shè)備，數(shù)據(jù)一致性更強(qiáng)、測(cè)試效率更高。

同時(shí)支持自定義電壓波形輸出，可模擬多種實(shí)際工況電場(chǎng)，為材料篩選、機(jī)理研究、失效分析及器件可靠性評(píng)估提供完整的測(cè)試解決方案。