半導體材料高低溫電阻率測試系統(tǒng)

產品型號：SIR-450

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-06

產品簡介：

SIR-450半導體材料高低溫電阻率測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

SIR-450半導體材料高低溫電阻率測試系統(tǒng)由華測儀器生產，用于預測EMC的HTRB性能，環(huán)氧塑封料（EMC， Epoxy Molding Compound）是用于半導體封裝的一種熱固性化學材料，具有保護芯片不受外界環(huán)境的影響，抵抗外部溶劑、濕氣、沖擊，保證芯片與外界環(huán)境電絕緣等功能，環(huán)氧塑封料對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用。

產品參數

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅或銀

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數據傳輸：RS-232

產品優(yōu)勢

除去電網諧波對采集精度的影響

除去不規(guī)則輸入的自動平均值功能

采用測量前等待的方式，讓材料受熱更均勻

多種加溫方式

勻速度加熱試驗

階梯式加熱試驗

熱循環(huán)試驗（僅供反射爐）

降溫試驗

加速度升溫（僅供反射爐）